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臺積電SoIC技術路線圖更新:2029年互連間距縮至4.5μm 引領芯片集成新突破

   發布時間:2026-05-01 00:44 作者:馮璃月

在北美舉辦的技術研討會上,臺積電披露了其SoIC 3D堆疊技術的最新演進路線,明確規劃了未來數年的技術突破方向。該技術通過垂直堆疊芯片實現系統級集成,被視為推動高性能計算與AI芯片發展的關鍵突破口。

SoIC(System on Integrated Chips)技術采用混合鍵合工藝,使芯片間直接通過金屬層互聯,無需依賴傳統硅通孔(TSV)技術。這種設計顯著縮短了信號傳輸路徑,功耗降低的同時延遲大幅減少。根據技術路線圖,臺積電計劃將現有6微米互連間距持續壓縮,目標在2029年實現4.5微米的行業領先水平。

該技術包含兩種主要堆疊模式:背對背(F2B)與面對面(F2F)。F2B模式因信號需穿越底層TSV和多層金屬結構,導致互連密度受限在1500個/平方毫米,且功耗與延遲較高。而F2F模式通過銅混合鍵合技術直接連接金屬層,互連密度躍升至14000個/平方毫米,性能表現接近單芯片內部通信水平。

技術迭代進程顯示,臺積電2023年已實現9微米間距的量產能力,支撐了AMD Instinct MI300系列等產品的落地。2025年將推進至6微米間距,并逐步向2029年的4.5微米目標邁進。值得注意的是,初代SoIC僅支持F2B模式,而后續演進將重點突破F2F模式的工藝挑戰。

實際應用層面,富士通Monaka數據中心處理器成為SoIC技術的標桿案例。這款搭載144個Armv9核心的CPU,通過F2F模式將采用N2工藝的計算模塊與N5工藝的SRAM芯片垂直集成,在保持高性能的同時實現了存儲與計算的緊密耦合。這種架構創新為未來異構計算提供了重要參考范式。

 
 
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